DX-pct-350半导体器件 PCT 高压老化试验箱
半导体器件 PCT 高压老化试验箱是一种用于测试半导体器件在加速老化过程中,在高温、高湿、高压环境下的性能和可靠性的设备。PCT(Pressure Cooker Test,加压锅试验)高压老化试验箱通过模拟恶劣环境(如高温、高湿和高压),加速半导体器件的老化过程,帮助评估其在长时间使用后的性能变化,尤其是耐湿性、热稳定性、封装质量以及电气性能。
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更新日期
2024-12-11 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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