芯片钝化层笔颁罢温湿度偏压寿命试验箱
芯片钝化层笔颁罢温湿度偏压寿命试验箱是一种用于进行PCT(压力锅测试)温湿度偏压寿命测试的设备。它主要用于电子、电气、半导体等产物的可靠性评估,特别是在恶劣环境下模拟产物的使用寿命。该试验箱通过在高温高湿的环境中施加高气压和偏压,模拟产物在实际使用过程中可能遇到的压力和温湿度变化。通过持续进行温度循环、湿度循环和偏压循环等测试,可以加速产物老化过程和失效机理
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更新日期
2025-11-04 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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2025-08-27




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