DX-pct-350半导体晶圆 PCT加速老化试验箱
半导体晶圆 PCT加速老化试验箱(Pressure Cooker Test,压力锅测试箱)是一种用于评估半导体晶圆及其封装材料在高温、高湿和高压环境下的老化性能的实验设备。该测试箱通过模拟恶劣的工作环境,帮助研究人员评估半导体器件的长期可靠性和性能稳定性。
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更新日期
2024-12-07 - 02
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