顿齿-贬础厂罢350封装可靠性测试贬础厂罢蒸汽老化试验箱
封装可靠性测试是评估电子元器件、特别是集成电路(IC)、半导体封装及其他电子组件在恶劣环境条件下性能稳定性的重要步骤。HAST(High Accelerated Stress Test,高加速蒸汽老化试验)封装可靠性测试HAST蒸汽老化试验箱是这一过程中的关键设备之一。通过模拟高温、高湿环境,HAST试验箱能够加速电子元器件封装材料的老化过程,从而揭示潜在的失效模式和设计缺陷,帮助改进封装设计。
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更新日期
2024-12-14 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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